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32.768KHz貼片晶振測試儀升級成功

更新日期:2025-06-26      瀏覽次數(shù):14

 我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進項目圓滿成功!這一成果凝聚著全體研發(fā)團隊的智慧與汗水,標志著我司在晶振檢測技術(shù)領域?qū)崿F(xiàn)新突破。此次改進大幅提升測試精度與效率,為產(chǎn)品質(zhì)量管控注入更強動力,期待未來繼續(xù)攜手,攀登更多技術(shù)高峰!

    目前實際應用中的32.768KHz貼片晶振封裝尺寸主要有:SMD2012,SMD3215,  SMD7015,  SMD8038。對于這些晶振,很多廠家無法對其來料測試,為解決這一難道,我司特定開模制作了那些貼片晶振的測試工裝。配合CX-118A晶振測試儀,可進行各種32.768KHz貼片晶振的頻率和誤差。

32.768KHz貼片晶振測試儀升級成功

32.768Khz在電路中的作用


1、采用32.768Khz的原因

32.768Khz頻率在電路設計中被廣泛采用,主要是因為其特殊的數(shù)學特性。這個頻率值經(jīng)過簡單的分頻處理,可以方便地得到各種常用的時間基準。例如,通過合適的電路對其進行15次二分頻,可以精確地產(chǎn)生1Hz的信號,這對于以秒為單位的計時功能實現(xiàn)非常關鍵。而且,該頻率的晶體振蕩器具有較高的穩(wěn)定性,能夠在不同的環(huán)境條件下保持相對穩(wěn)定的輸出,從而為電路提供準確可靠的時鐘信號,滿足諸如實時時鐘(RTC)等對時間精度要求較高的應用場景。

32.768Khz外接負載的選擇

外接負載對于32.768Khz晶體振蕩器的性能有著顯著影響。選擇合適的負載電容至關重要。負載電容值需要根據(jù)晶體的規(guī)格參數(shù)和電路的具體要求來確定。如果負載電容選擇不當,可能會導致晶體振蕩器的頻率偏移,進而影響整個電路的計時準確性。一般來說,常見的負載電容值在7pF 、9PF、12.5pF,在設計電路時,需要考慮與之相連的芯片引腳內(nèi)部電容,通過計算來選擇合適的外部負載電容,以保證晶體振蕩器工作在其標稱頻率附近。

以下是常見負載對應的外接電容值:

實際情況還需進行匹配測試后,推薦最佳外接電容值。

3、32.768Khz外接的電路

如圖所示是晶振的整體電路。R1為反相器invl提供偏置,使其中的MOS管工作在飽和區(qū)以獲得較大的增益;C1,C2和雜散電容一起構(gòu)成晶體的電容負載, 同時它們和反相器invl一起可以等效為一負阻, 為晶體提供其振蕩所需要的能量;R2用來降低對晶體的驅(qū)動能量, 以防止晶體振壞或出現(xiàn)異常; 反相器inv2對invl的輸出波形整形并驅(qū)動負載。



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